微波等離子體化學(xué)氣相沉積系統(tǒng)中真空壓力控制裝置的國產(chǎn)化替代
點擊:741 發(fā)布時間:2022-01-01
1.問題的提出
在微波等離子體化學(xué)氣相沉積(MPCVD)系統(tǒng)中,微波發(fā)生器產(chǎn)生的微波用波導(dǎo)管傳輸至反應(yīng)器,并向反應(yīng)器中通入不同氣體構(gòu)成的混合氣體,高強度微波能激發(fā)分解基片上方的含碳氣體形成活性含碳基團和原子態(tài)氫,并形成等離子體,從而在基片上沉積得到金剛石薄膜。等離子體激發(fā)形成于諧振器內(nèi),諧振器真空壓力的調(diào)節(jié)對金剛石的合成質(zhì)量至關(guān)重要,現(xiàn)有技術(shù)中,真空管路上通常設(shè)置可以自動調(diào)節(jié)閥芯大小的比例閥對諧振腔真空壓力進行自動控制,目前國內(nèi)外比較成熟的技術(shù)是比例閥采用美國MKS公司的248系列控制閥和相應(yīng)的配套驅(qū)動器1249B和控制器250E等。但在實際應(yīng)用中,如美國FD3M公司發(fā)明專利“真空壓力控制裝置和微波等離子體化學(xué)氣相沉積裝置”(專利號CN108517556)中所描述的那樣,使用MSK公司產(chǎn)品主要存在以下幾方面的問題:
(1)不包括真空計的話,僅真空壓力控制至少需要一個248系列控制閥、一個配套的驅(qū)動器1249B和一個真空壓力控制器250E,所構(gòu)成的閉環(huán)控制裝置整體價格比較昂貴。
(2)248系列控制閥是一種典型的比例閥,這種比例閥動態(tài)控制精度難以滿足真空壓力控制要求,如設(shè)定值為20、30、50、100和150Torr不同工藝真空壓力時,實際控制壓力分別為24、33、53、102和152Torr,控制波動范圍為1.3~20%。
另外,通過我們的使用經(jīng)驗和分析,在微波等離子體化學(xué)氣相沉積(MPCVD)系統(tǒng)中采用MKS公司產(chǎn)品還存在以下問題:
(1)美國MKS公司248系列控制閥,以及148J和154B系列控制閥,因為其閥芯開度較小,使用中相應(yīng)的氣體流量也較小,所以MKS公司將這些控制閥分類為上游流量控制閥。在微波等離子體化學(xué)氣相沉積(MPCVD)系統(tǒng)中,一般是控制閥安裝在工作腔室和真空泵之間的真空管路中,也就是所謂的下游控制模式,而MKS公司的下游流量控制閥的最小孔徑為50mm以上,對MPCVD系統(tǒng)而言這顯然孔徑太大,同時這些下游流量控制閥價格更加昂貴。因此,選用小孔徑小流量的248系列控制閥作為下游控制模式中的控制閥實屬無奈之舉。
(2)如果將美國MKS公司248系列上游控制閥用到MPCVD系統(tǒng)真空壓力的下游控制,所帶來的另一個問題是工藝過程中所產(chǎn)生的雜質(zhì)對控制閥的污染,而采用可拆卸可清洗的下游控制閥則可很好的解決此問題,這也是MKS公司下游控制閥的主要功能之一。
針對上述微波等離子體化學(xué)氣相沉積(MPCVD)系統(tǒng)中真空壓力控制中存在的問題,上海依陽實業(yè)有限公司開發(fā)了新型低價的下游真空壓力控制裝置,通過大量驗證試驗和實際使用,證明可成功實現(xiàn)真空壓力下游控制方式的國產(chǎn)化替代。
2.MPCVD系統(tǒng)中的真空壓力下游控制模式
針對微波等離子體化學(xué)氣相沉積(MPCVD)系統(tǒng),系統(tǒng)真空腔體內(nèi)的真空壓力采用了下游控制模式,此控制模式的結(jié)構(gòu)如圖2-1所示。
圖2-1MPCVD系統(tǒng)真空壓力下游控制模式示意圖
上述微波等離子體化學(xué)氣相沉積設(shè)備的工作原理和過程為:首先對真空腔抽真空,并向真空腔內(nèi)通入工藝混合氣體,然后通過微波源產(chǎn)生微波,微波經(jīng)過轉(zhuǎn)換后進行諧振真空腔,最終形成相應(yīng)形狀的等離子體,從而形成氣相沉積
裝置可以通過調(diào)節(jié)微波功率、工作氣壓調(diào)節(jié)溫度。為了進行工作氣壓的調(diào)節(jié),在真空泵和真空腔之間增加一個數(shù)字調(diào)節(jié)閥。當(dāng)設(shè)定一定的進氣速率后,調(diào)節(jié)閥用來控制裝置的出氣速率由此來控制工作腔室內(nèi)的真空度,采用薄膜電容真空計來高精度測量絕對真空度,而調(diào)節(jié)閥的開度則采用24位高精度控制器進行PID控制。
3.下游控制模式的特點
如圖2-1所示,下游控制模式是一種控制真空系統(tǒng)內(nèi)部真空壓力的方法,其中抽氣速度是可變的,通常由真空泵和腔室之間的控制閥實現(xiàn)。
下游控制模式是維持真空系統(tǒng)下游的壓力,增加抽速以增加真空度,減少流量以減少真空度,因此,這稱為直接作用,這種控制器配置通常稱為標準真空壓力調(diào)節(jié)器。
在真空壓力下游模式控制期間,控制閥將以特定的速率限制真空泵抽出氣體,同時還與控制器通信。如果從控制器接收到不正確的輸出電壓(意味著壓力不正確),控制閥將調(diào)整抽氣流量。壓力過高,控制閥會增大開度來增加抽速,壓力過低,控制閥會減小開度來降低抽速。
下游模式具有以下特點:
(1)下游模式作為目前最常用的控制模式,通常在各種條件下都能很好地工作。
(2)下游控制模式主要用于精確控制真空腔體的下游實際出氣速率,與真空泵連接的出氣口徑一般較大,相應(yīng)的真空管路也較粗,因此下游控制閥的口徑一般也相應(yīng)較大,由此可滿足不同大口徑抽氣速率的要求。
(3)在下游模式控制過程中,其有效性有時可能會受到“外部”因素的挑戰(zhàn),如入口氣體流速的突然變化、等離子體事件的開啟或關(guān)閉使得溫度突變而帶來內(nèi)部真空壓力的突變。此外,某些流量和壓力的組合會迫使控制閥在等于或超過其預(yù)期控制范圍的極限的位置上運行。在這種情況下,精確或可重復(fù)的壓力控制都是不可行的。或者,壓力控制可能是可行的,但不是以快速有效的方式,結(jié)果造成產(chǎn)品的產(chǎn)量和良率受到影響。
(4)在下游模式中,會在更換氣體或等待腔室內(nèi)氣體沉降時引起延遲。
4.下游控制用真空壓力控制裝置
下游控制模式用的真空壓力控制裝置包括數(shù)字式控制閥和24位高精度PID控制器。
4.1.數(shù)字式控制閥
數(shù)字式控制閥為上海依陽公司生產(chǎn)的LCV-DS-M8型數(shù)字式調(diào)節(jié)閥,如圖4-1所示,其技術(shù)指標如下:
(1)公稱通徑:快卸:DN10-DN50、活套:DN10-DN200、螺紋:DN10-DN100。
(2)適用范圍(Pa):快卸法蘭(KF)2×105~1.3×10-6/活套法蘭6×105~1.3×10-6。
(3)動作范圍:0~90°;動作時間:小于7秒。
(4)閥門漏率(/S):≤1.3×10-6。
(5)適用溫度:2℃~90℃。
(6)閥體材質(zhì):不銹鋼304或316L。
(7)密封件材質(zhì):增強聚四氟乙烯。
(8)控制信號:DC0~10V或4~20mA。
(9)閥體可拆卸清洗。
圖4-1依陽LCV-DS-M8數(shù)字式調(diào)節(jié)閥
4.2.真空壓力PID控制器
真空壓力控制器為上海依陽公司生產(chǎn)的EYOUNG2021-VCC型真空壓力PID控制器,如圖4-2所示,其技術(shù)指標如下:
(1)控制周期:50ms/100ms。
(2)測量精度:0.1%FS(采用24位AD)。
(3)采樣速率:20Hz/10Hz。
(4)控制輸出:直流0~10V、4-20mA和固態(tài)繼電器。
(5)控制程序:支持9條控制程序,每條程序可設(shè)定24段程序曲線。
(6)PID參數(shù):20組分組PID和分組PID限幅,PID自整定。
(7)標準MODBUSRTU通訊協(xié)議。兩線制RS485。
(8)設(shè)備供電:86~260VAC(47~63HZ)/DC24V。
圖4-2依陽24位真空壓力控制器
5.控制效果
為了考核所研制的控制閥和控制器的集成控制效果,如圖5-1所示,在一真空系統(tǒng)上進行了安裝和考核試驗。
圖5-1真空壓力下游控制模式試驗考核
在考核試驗中,先開啟真空泵和控制閥對樣品腔抽真空,并按照設(shè)定流量向真空腔充入相應(yīng)的工作氣體,真空度分別用薄膜電容式真空計和皮拉尼真空計分別測量,并對真空腔內(nèi)的真空壓力進行恒定控制。在整個過程中真空腔內(nèi)的真空度按照多個設(shè)定值進行控制,如71、200、300、450和600Torr,整個過程中的真空壓力變化如圖5-2所示。
圖5-2考核試驗過程中的不同真空度控制結(jié)果
為了更好的觀察考核試驗結(jié)果,將圖5-2中真空度71Torr處的控制結(jié)果放大顯示,如圖5-3所示。從圖5-3所示結(jié)果可以看出,在71Torr真空壓力恒定控制過程中,真空壓力的波動最大不超過±1Torr,波動率約為±1.4%。同樣,也可以由此計算其他設(shè)定值下的真空壓力控制的波動率,證明都遠小于±1.4%,由此證明控制精度要比MKS公司產(chǎn)品高出一個數(shù)量級,可見國產(chǎn)化替代產(chǎn)品具有更高的準確性。
圖5-3考核試驗中設(shè)定值為71Torr時的控制結(jié)果
另外,還將國產(chǎn)化替代產(chǎn)品安裝到微波等離體子熱處理設(shè)備上進行實際應(yīng)用考核。在熱處理過程中,先開啟真空泵和控制閥對樣品真空腔抽真空,并通惰性氣體對樣品真空腔進行清洗,然后按照設(shè)定流量充入相應(yīng)的工作氣體,并對樣品腔內(nèi)的真空壓力進行恒定控制。真空壓力恒定后開啟等離子源對樣品進行熱處理,溫度控制在幾千度以上,在整個過程中樣品腔內(nèi)的真空壓力始終控制在設(shè)定值幾百Torr上。整個變溫前后階段整個過程中的真空壓力變化如圖5-4所示。
圖5-4微波等離子體高溫?zé)崽幚磉^程中的真空壓力變化曲線
為了更好的觀察熱處理過程中真空壓力的變化情況,將圖5-4中的溫度突變處放大顯示,如圖5-5所示。
圖5-5微波等離子體高溫?zé)崽幚磉^程中溫度突變時的真空壓力變化
從圖5-5所示結(jié)果可以看出,在幾百Torr真空壓力恒定控制過程中,真空壓力的波動非常小,約為0.5%,由此可見調(diào)節(jié)閥和控制器工作的準確性。
6.總結(jié)
綜上所述,采用了完全國產(chǎn)化的數(shù)字式調(diào)節(jié)閥和高精度控制器,完美驗證了真空壓力下游控制方式的可靠性和準確性,證明了國產(chǎn)化產(chǎn)品完全可以替代美國MKS公司相應(yīng)的真空壓力控制產(chǎn)品,并比國外產(chǎn)品具有更高的控制精度和價格優(yōu)勢。
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